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颗粒粒径

Pion的激光遮蔽时间和图像分析技术可以表征粒径,而无需知道样品的光学特性。它们特别适用于研究悬浮液和动态过程,如溶出、结晶和崩解。

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  • 介绍

    粒度和粒形测量使用Pion Insight平台进行。该仪器是一个双通道系统,它结合使用激光遮蔽时间(LOT)和数字图像分析来提供与样品特性相关的大量参数。介子粒径和形状分析可应用于固体(在适当的悬浮介质中制备为悬浮液)、凝胶、软膏和乳膏,并用于药物开发的各个阶段,以表征材料特性。

  • 关键数据和报告呈现

    粒径(d10、d50 和 d90)值由 LOT 或数字图像分析确定。颗粒形状参数,如等效直径、Ferret直径、长宽比、特征长度、形状因子、面积、体积等。提供完整的研究报告。

  • 实验概述

    该仪器结合使用激光遮蔽时间(LOT)和数字图像分析。

    LOT使用聚焦旋转激光的衰减曲线,因为它被穿过激光束的粒子阻挡。激光旋转的速度相对于溶液中颗粒的运动是如此之快,以至于颗粒看起来是静态的。通过将移动激光束的速度乘以遮挡时间,可以计算出经过探测器前方的粒子的距离或“弦长”。使用LOT可以在短时间内获取大量粒子的数据。

    数字图像分析相机与激光测量正交放置,用于捕获测量单元的图像。采集参数设置为采集大量粒子(例如,15,000个粒子)的数据。可以使用多种显微镜物镜(x6、x10或x20)来获得最佳颗粒聚焦。对记录图像的分析提供了大量与形状特征相关的颗粒属性,例如等效直径、 Ferret直径、长宽比、特征长度、形状因子、面积、体积等。

  • 样品制备要求

    固体,软膏,凝胶或乳膏。

  • 消耗品
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